单板级JTAG测试技术
【作 者】王承，刘治国编著
【形态项】 205
【出版项】 北京：国防工业出版社 , 2015.06
【ISBN号】978-7-118-09986-7
【中图法分类号】TN407
【主题词】集成电路-测试技术
【参考文献格式】 王承，刘治国编著. 单板级JTAG测试技术. 北京：国防工业出版社, 2015.06.
内容提要:
本书是一本系统论述单板级JTAG测试技术的专著。内容包括：基于IEEE1149。1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串心测试矢量；内建自测试和仿真测试；基于IEEE1687标准的集成电路测试技术发展趋势。
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